IC芯片資深測(cè)試工程師
1、負(fù)責(zé)Nor flash、EEPROM等存儲(chǔ)新產(chǎn)品應(yīng)用測(cè)試平臺(tái)的軟硬件開發(fā)
2、負(fù)責(zé)相關(guān)新產(chǎn)品的應(yīng)用程序開發(fā)、功能性驗(yàn)證
3、負(fù)責(zé)上述新產(chǎn)品相關(guān)應(yīng)用系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)、方法制定并實(shí)施
4、在產(chǎn)品研發(fā)和量產(chǎn)期間協(xié)助設(shè)計(jì)、工藝和FAE分析解決產(chǎn)品失效及應(yīng)用端問(wèn)題
USB協(xié)議棧開發(fā)
1、USB協(xié)議棧開發(fā)
2、USB測(cè)試驗(yàn)證及USB應(yīng)用方案開發(fā)
3、部分驅(qū)動(dòng)庫(kù)開發(fā)
Memory應(yīng)用測(cè)試工程師
1、負(fù)責(zé)Flash/EEPROM存儲(chǔ)新產(chǎn)品的測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試方法的編寫
2、負(fù)責(zé)芯片產(chǎn)品可靠性考核平臺(tái)開發(fā)、測(cè)試驗(yàn)證平臺(tái)的軟硬件
3、負(fù)責(zé)相關(guān)芯片測(cè)試程序、芯片測(cè)試、和分析Debug
4、負(fù)責(zé)測(cè)試的數(shù)據(jù)分析判斷、撰寫驗(yàn)證測(cè)試報(bào)告,給出測(cè)試結(jié)論
5、負(fù)責(zé)對(duì)設(shè)計(jì)、工藝、客戶等其他需求部門的測(cè)試分析支持
Memory資深應(yīng)用工程師
1、負(fù)責(zé)Flash/EEPROM存儲(chǔ)新產(chǎn)品的測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試方法的制定
2、負(fù)責(zé)芯片產(chǎn)品可靠性考核平臺(tái)開發(fā)、測(cè)試驗(yàn)證平臺(tái)的軟硬件
3、負(fù)責(zé)相關(guān)芯片測(cè)試程序、芯片測(cè)試、和分析Debug
4、負(fù)責(zé)測(cè)試的數(shù)據(jù)分析判斷、撰寫驗(yàn)證測(cè)試報(bào)告,給出測(cè)試結(jié)論
5、負(fù)責(zé)對(duì)設(shè)計(jì)、工藝、客戶等其他需求部門的測(cè)試分析支持
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