IC芯片資深測試工程師
1、負(fù)責(zé)Nor flash、EEPROM等存儲新產(chǎn)品應(yīng)用測試平臺的軟硬件開發(fā)
2、負(fù)責(zé)相關(guān)新產(chǎn)品的應(yīng)用程序開發(fā)、功能性驗(yàn)證
3、負(fù)責(zé)上述新產(chǎn)品相關(guān)應(yīng)用系統(tǒng)級測試的標(biāo)準(zhǔn)、方法制定并實(shí)施
4、在產(chǎn)品研發(fā)和量產(chǎn)期間協(xié)助設(shè)計(jì)、工藝和FAE分析解決產(chǎn)品失效及應(yīng)用端問題
USB協(xié)議棧開發(fā)
1、USB協(xié)議棧開發(fā)
2、USB測試驗(yàn)證及USB應(yīng)用方案開發(fā)
3、部分驅(qū)動(dòng)庫開發(fā)
Memory應(yīng)用測試工程師
1、負(fù)責(zé)Flash/EEPROM存儲新產(chǎn)品的測試計(jì)劃、測試方法的編寫
2、負(fù)責(zé)芯片產(chǎn)品可靠性考核平臺開發(fā)、測試驗(yàn)證平臺的軟硬件
3、負(fù)責(zé)相關(guān)芯片測試程序、芯片測試、和分析Debug
4、負(fù)責(zé)測試的數(shù)據(jù)分析判斷、撰寫驗(yàn)證測試報(bào)告,給出測試結(jié)論
5、負(fù)責(zé)對設(shè)計(jì)、工藝、客戶等其他需求部門的測試分析支持
Memory資深應(yīng)用工程師
1、負(fù)責(zé)Flash/EEPROM存儲新產(chǎn)品的測試計(jì)劃、測試方法的制定
2、負(fù)責(zé)芯片產(chǎn)品可靠性考核平臺開發(fā)、測試驗(yàn)證平臺的軟硬件
3、負(fù)責(zé)相關(guān)芯片測試程序、芯片測試、和分析Debug
4、負(fù)責(zé)測試的數(shù)據(jù)分析判斷、撰寫驗(yàn)證測試報(bào)告,給出測試結(jié)論
5、負(fù)責(zé)對設(shè)計(jì)、工藝、客戶等其他需求部門的測試分析支持
2018年會(huì)
2023年會(huì)
有風(fēng)的地方
2019年會(huì)
2019年會(huì)
2023年會(huì)
培訓(xùn)頒獎(jiǎng)
2019年年會(huì)
培訓(xùn)復(fù)盤
新年跑
2019年會(huì)
2019年會(huì)
新年跑1
圣誕節(jié)
生日會(huì)
商業(yè)保險(xiǎn)
年度體檢
人才落戶
住房借款
生日會(huì)
下午茶
彈性工作
111111